- Радиоэлектроника. Связь
- Горная промышленность. Металлургия
- Энергетика
- Машиностроение. Приборостроение
- Автоматика. Вычислительная техника
- Транспорт
- Легкая промышленность
- Пищевая промышленность
- Полиграфия
- Строительство. Коммунальное хозяйство
- Электротехника. Электроника
- Робототехника и контроллеры
- Ремонт бытовых приборов
Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие; Издательский Дом Интеллект, 2012
2121 грн.
- Издатель: Интеллект групп
- ISBN: 978-5-91559-119-5
EAN: 9785915591195
- Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
- ID: 1728834
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Видео Обзоры (1)
Лекция профессора Андрея Серого «Как изобретать инструменты науки будущего?»
Характеристики (12)
Параметр | Значение |
---|---|
Издатель | Издательский Дом Интеллект |
Год издания | 2012 |
ISBN | 978-5-91559-119-5 |
Размеры | 14,90 см × 21,60 см × 2,20 см |
Автор(ы) | Лич Ричард |
Тематика | Аппаратные средства |
Раздел | Информационные технологии |
Количество страниц | 400 |
Формат | 149x216мм |
Вес | 0.52кг |
Обложка | твердый переплёт |
Кол-во страниц | 400 |
Цены (1)
Цена от 2121 грн. до 2121 грн. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Купить в кредит (2)
Компания | Предложение |
---|---|
Полезные онлайн-сервисы
Компания | Предложение |
---|