Основы математической метрологии; Политехника, 2005
895 грн.
- Издатель: Политехника
- ISBN: 5-7325-0793-0
EAN: 5-7325-0793-0
- Книги: Физика и математика
- ID: 1732528
Описание
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений.
Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
Видео Обзоры (5)
Околорудные метасоматиты. 01. Введение.
КИТ в МС. 1.5. Понятия координатной метрологии.
Лекция 3. Метрология, стандартизация и сертификация. 2021
Вебинар "Неопределенность измерений – достоверность результатов измерений" 19.11.2020
Видеолекция Метрология
Характеристики (13)
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Цветков Эрик Иванович |
Издатель | Политехника |
Год издания | 2005 |
Страниц | 510 |
Переплёт | твердый |
ISBN | 5-7325-0793-0 |
Размеры | 21,50 см × 14,50 см × 2,50 см |
Формат | 60х90/16 шитая |
Тематика | Математика |
Тираж | 1000 |
Обложка | твердый переплёт |
Язык издания | rus |
Кол-во страниц | 510 |
Цены (1)
Цена от 895 грн. до 895 грн. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Купить в кредит (2)
Компания | Предложение |
---|---|
Полезные онлайн-сервисы
Компания | Предложение |
---|