Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов; ТЕХНОСФЕРА, 2011
1610 грн.
- Издатель: Техносфера
- ISBN: 9785948362915
EAN: 978-5-94836-291-5
- Книги: Электроника
- ID: 1986772
Описание
В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось
на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков,
обнаруженных в ходе преподавания.
Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов.
Видео Обзоры (5)
Современные физические методы исследования материалов. Иванов Д.А.
Лекция 1.3. Специфика нанометрологии, приборы для проведения измерений | Нанометрология
Машекова А. – Материаловедение
Физические проблемы материаловедения. Часть 3.
Гудилин Е. А. - Неорганическая химия II - Методы исследований
Характеристики (18)
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Переплет | Твердый переплёт |
| Издатель | ТЕХНОСФЕРА |
| Год издания | 2011 |
| Возрастные ограничения | 12 |
| Кол-во страниц | 904 |
| Серия | Мир физики и техники |
| Автор(ы) | Фульц Б., Хау Дж. |
| Страниц | 904 |
| Переплёт | твердый |
| ISBN | 978-5-94836-291-5 |
| Размеры | 17,20 см × 24,60 см × 4,20 см |
| Формат | 172x246мм |
| Тематика | Автоматика. Телемеханика |
| Тираж | 3000 |
| Обложка | твердый переплёт |
| Раздел | Радиоэлектроника |
| Количество страниц | 904 |
| Вес | 1.30кг |
Цены (1)
Цена от 1610 грн. до 1610 грн. в 1 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
Купить в кредит (2)
| Компания | Предложение |
|---|---|
Полезные онлайн-сервисы
| Компания | Предложение |
|---|
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!